eventApplied Machine Learning for Smart and Connected Systems [Applied Machine Learning for Smart and Connected Systems] (V/Ü)
person Burkhardt Funk, Maximilian Hannes Reinhardt

Next appointment: Next week Thursday at 09:50

Dates

weekly | Thursday | 09:50 - 12:05 | 06.04.2026 - 10.07.2026 | C 6.316 Seminarraum

Curriculum context

Combined academic performance
Zwischenpräsentation (15%)
Abschlusspräsentation (25%)
Projektdokumentation (60%)
Date of assessment: Thursday, 07.05.2026
Resit date: No resit date will be offered to this assessment, because it is didactically inseparably connected with one of the associated courses. A resit will only be possible, if the module is available again.
Anzeige von Anmeldebeginn und -ende systembedingt. Selbständige Anmeldung nur zum Prüfungstermin und nicht zum Wiederholungstermin möglich.

Organizational information

Lecture/Exercise
Vollständig Präsenz
3
central procedure for assignment of remaining places (with participant limit)
21

Registration

central procedure for assignment of remaining places (with participant limit)

Registration ends 07.4.2026 at 23:59 h

Content

Deutsch
Applied Machine Learning for Smart and Connected Systems
none

Wearables, Smartphones und IoT-Geräte sind heute Teil vernetzter cyber-physischer Systeme. Sie erfassen kontinuierlich Bewegungs-, Körper- und Umweltdaten und eröffnen damit breite Anwendungsmöglichkeiten für datengetriebene Analysen.

In dieser Veranstaltung lernen Sie, Daten physischer Sensoren mit modernen Machine-Learning-Verfahren zu verarbeiten und zu modellieren – vom Data Cleaning und der Signalaufbereitung über Feature-Engineering und Modelltraining bis zur Evaluation. Die vermittelten Methoden finden sich u. a. in Predictive Maintenance, im autonomen Fahren sowie in datenschutzfreundlichen Ansätzen wie Federated Learning wieder.
Nach einer einführenden Vorlesungsphase entwickeln Sie ein eigenes Projekt, in dem Sie Sensordaten erheben, analysieren und für Erkennung, Vorhersage oder Anomaliedetektion nutzen – etwa zur Aktivitäts- und Gangerkennung, Haltungsklassifikation, Belastungs-/Stressschätzung oder Zustandsprognose technischer Systeme.

Als Leitfaden dient Hoogendoorn & Funk (2018), Machine Learning for the Quantified Self.

Studierende entwickeln im Kontext der Veranstaltung eigene Projektideen und lernen den Umgang mit und die Analyse von Sensordaten

Evaluation

This course has not been registered for teaching evaluation yet.

Further information on teaching evaluation: https://www.leuphana.de/en/teaching/quality-management/evaluation/course-evaluation.html

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